X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得zui多也zui广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
X荧光光谱仪的性能特点：
1、专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
2、电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
3、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
4、抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析。
5、针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
6、任意多个可选择的分析和识别模型。
7、相互独立的基体效应校正模型。
8、多变量非线性回归程序。
9、智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
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