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Agilent 5800 ICP-OES助你夺回浪费的时间

2019.12.12
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小编

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安捷伦科技(中国)有限公司原子光谱应用专家冯文坤

  安捷伦科技(中国)有限公司原子光谱应用专家冯文坤发表主题为“Agilent 5800 ICP-OES助你夺回浪费的时间”的精彩报告。当前实验室样品测试结果需重复测试率达15%,主要原因是由于实验室缺乏有经验的操作者与人员的高流动性导致样品前处理或测试过程中出现错误。全新Agilent 5800 ICP-OES较上一代体积减少了20%。共两种配置:垂直双向观测 (VDV) 和径向观测 (RV)。5800通过传感器和计数器可进行智能仪器状态追踪,在系统需要维护时为用户提供指导,有效缩短停机时间、降低维护成本。此外,Neb Alert功能可持续监测雾化器,并在雾化器需要清洁或发生泄漏时进行提醒,避免时间浪费。


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