石墨炉原子化法(GFAAS)
特点:
采用直接进样和程序升温方式,原子化温度曲线是一条具有峰值的曲线。
可达3500℃高温,且升温速度快。
绝对灵敏度高,一般元素的可达10-9~10-12 g。
可分析70多种金属和类金属元素。
所用样品量少(1~100 mL)。
但是,石墨炉原子化法的分析速度较慢,分析成本高,背景吸收、光辐射和基体干扰比较大。
物理干扰:
指样品溶液物理性质变化而引起吸收信号强度变化,物理干扰属非选择性干扰。
物理干扰一般都是负干扰。
消除方法:
配制与待测样品溶液基体相一致的标准溶液;
采用标准加入法;
被测样品溶液中元素的浓度较高时,采用稀释方法来减少或消除物理干扰。
化学干扰:
待测元素在原子化过程中,与基体组分原子或分子之间产生化学作用而引起的干扰。
消除方法:
改变火焰类型、改变火焰特性、加入释放剂、加入保护剂、加入缓冲剂、采用标准加入法。
背景干扰也是光谱干扰,主要指:分子吸与光散射造成光谱背景。分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射吸收,分子吸收是带光谱。光散射是指原子化过程中产生的微小的固体颗粒使光产生散射,造成透过光减小,吸收值增加,背景干扰,一般使吸收值增加,产生正误差;
质谱分析法
质谱法(Mass Spectrometry):
是通过对被测样品离子的质荷比进行测定的一种分析方法。被分析的样品首先要离子化,然后利用不同离子在电场或磁场中运动行为的不同,把离子按质荷比(m/z)分离而得到质谱,通过样品的质谱和相关信息,可以得到样品的定性定量结果。
离子源:
1.高频火花离子源;
2.电感耦合等离子体离子源;
3.辉光放电离子源;
4.其他离子源:
(1)激光离子源;
(2)离子轰击离子源;
质量分析器:
磁质量分析器;四极滤质器;离子回旋共振分析器(Ion Cyclotron Resonance,ICR)
电感耦合等离子体质谱法:
优点:
试样在常温下引入;
气体的温度很高使试样完全蒸发和解离;
试样原子离子化的百分比很高;
产生的主要是一价离子;
离子能量分散小;
外部离子源,即离子并不处在真空中;
离子源处于低电位,可配用简单的质量分析器。
干扰及消除方法:
1.同质量类型离子:同质量类型离子干扰是指两种不同元素有几乎相同质量的同位素;
2.多原子离子干扰:一般认为,多原子离子并不存在于等离子体本身中,而是在离子的引出过程中,由等离子体中的组分与基体或大气中的组分相互作用而形成;
3.氧化物和氢氧化物干扰
4.仪器和试样制备所引起的干扰。