Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，其物点为：高分辨率，固态探测器。主要应用测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92 )。 自动过滤器，多准直仪(五个准直器，从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台；性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
微先锋镀层测厚仪的功能：
1.相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。
2.标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。
3.可测量高达六层的镀层(五层厚度底材) 并可同时分析多种元素。
4.移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
5.全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
6.非破坏，非接触式检测分析，快速精準。
7.準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。
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