校准

校准是使用已知探失，在特定的温度下，针对某种材料，以进行测量为目的而对仪器进行调整的过程。在检测某种特殊材料之前，经常需要校准仪器。测量度与仪器进行校准时的度完全相同。

需要进行以卜三种类型的校准:

探头零位补偿〔[零位补偿]键)

只用于双晶探头，校准声束在每个双晶探头延迟块中的传播时间。这个补偿值针对不同的探头有所不同，且随温度而变化。启动测厚仪、更换探头或探头温度有显著变化时，必须进行探头零位补偿。

材料声速校准（[校准声速]键)

校准材料声速需使用一个带有己知厚度且材料与被测上件相同的厚试块进行，或者以手动方式输入一个以前确定的材料声速。测量每一种新材料时，都需进行这项操作。

零位校准（[校准零位]键）

进行零位校准需使用一个带有己知厚度且材料与被测上件相同的薄试块。与探头零位补偿和材料声速校准不同的是，零位校准操作只有在需要zui佳精度时才有必要进行(度高于±0.10毫米)。只需在使用新的探头和材料组合时进行一次零位校准。当探头温度变化时，不需要重复零位校准，但要进行探头零位补偿。

校准仪器

要得到的测量结果，就需要进行以下校准:

• 材料声速校准

• 零位校准

必须使用带有己知厚度的厚试块和薄试块进行校准。样件材料必须与要检测的工件相同。

以下说明的校准过程使用的是一个双晶，探头和一个5阶试块。

材料声速校准和零位校准

45MG仪器会进行校准双回波验证，以避免在薄样件上出现误校准。当仪器测到的是到第二个底而回波的渡越时间，而不是到*个底而回波的渡越时间时，会出现双回波现象。45MG仪器比较测量到的渡越时间与基于当前声速而预期的渡越时间。如果

发现可能出现了双回波，则45MG仪器会显示一条警告信息。在测量到的厚度低于探头所能测到的zui小厚度时，或探头已经损坏或灵敏度过低时，会出现双回波。

必须校准45MG，以确保其使用探头测量材料时获得无误的厚度读数。校准过程是在一个试块的两个已知厚度卜进行声速校准和零位校准(如:一个五阶试块，如卜图所示)，这个试块的材料要与被测工件的材料完全相同。

1.在试块厚阶梯的表而滴上耦合剂。

2.将探头耦合到试块的厚阶梯上。

3 . 按 [校准声速]键。

4.厚度读数的显示稳定后，按[确定]键。

5.使用箭头键输入已知厚度。

6.按[校准零位]键。

7.在试块薄阶梯的表而滴.上耦合剂。

8.将探头耦合到试块的薄阶梯上。

9.厚度读数的显示稳定后，按[确定]键。

10.使用箭头键输入已知厚度。