(1)在测量的时分要注意侧头与测试外表坚持笔直。
(2)在测量时要保持压力的稳定，否则会影响测量的读数。
(3)在进行测验的时分要注意标准片基体的金属磁性和外表粗糙度应当与试件类似。
(4)在测量的时分要注意试件的曲率对测量的影响。因而在弯曲的试件外表上测量时不可靠的。
(5)测量前要注意周围其他的电器设备会不会发作磁场，假如会，将会搅扰磁性测厚法的测厚仪。
(6) 在进行测验的时分要注意基体金属的临界厚度，假如大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
(7)在进行测验的时分要注意仪器测头和被测验件的要直接接触，因而超声波测厚仪在进行对侧头铲除附着物质。
(8)测量时要注意不要在内转角处和接近试件边际处测量，由于通常的测厚仪对试件外表形状的遽然改动很灵敏。
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