试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，
在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f) 试件的变形
影响测量精度的因素
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测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g) 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗
糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，
以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金
属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖
层后，再校对仪器的零点。
g) 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h) 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除
附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i) 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j) 测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
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