绝大多数情况下，为起到保护和装饰的双重作用，铁磁材料表面一般有一层涂层或其它覆盖物。要提高产品性能质量，就要对涂层厚度进行准确测量。超声波回波技术虽然能够用于测量涂层厚度，但分辨率太低，只有几十微米。漆膜测厚仪测量涂层采用磁感应原理，利用了不同材质之间的磁阻区别。利用探头测定与涂层厚度对应的磁阻大小，来表示其厚度。涂层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
   很多漆膜测厚仪使用厂家制定的基体测量时，结果相对准确，而换用其它铁磁材料的基体时，即使按厂家的校准步骤，测量结果也不准确。这是因为很多厂家的校准方法为单点校准或者是两点校准，这种校准方法常用于校正已知常量不变的情况下，校正函数的关系。而在已短常量变化的情况下，很难正确校正函数系数。

    我公司漆膜测厚仪内设系统校准功能，在更换基体后，经系统校准以保证测量数据的准确.

系统校准方法;

    本系统校准共需要校准五个标准样片，进入系统校准后首先显示"基体"界面，此时要把探头垂直的放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误操作，伴随着两声蜂鸣便进入*个样片的测量。屏幕首先显示出厂时提供的*个样片值。如果显示的样片值和随机配置的样片值大小不符，可以通过" "、" "键来进行加1或减1操作。按住" "或" "键不动可以连续加或减，直到调整到显示值和真实值相同为止。调整完样片值之后即可对*个样片进行测量，测量两次无误后，伴随着两声蜂鸣，仪器进入下一个样片的校准。若测量两次后仍无两声蜂鸣，说明操作有误，重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。

    当第五个样片校准完成后屏幕提示“校准已完成”，然后仪器进入测量界面。仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。

注意：这五个样片可以使用仪器提供的标准片也可以使用已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行，相邻样片间需要有一定的差值。系统校准时所选用的基体必须是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。