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电路板的大气污染物典型腐蚀分析及防护(二)

2020.9.29
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王辉

致力于为分析测试行业奉献终身

典型腐蚀与防护

电路板典型腐蚀失效

电路板上会用到多种物料,物料的选型对于腐蚀反应的发生有重要影响。以工程实际中遇到的厚膜电阻硫化、SMD LED两种典型硫化失效和印制板铜腐蚀为例,比较不同器件封装结构和材料选择对电路板抗腐蚀能力的影响。

1)厚膜贴片电阻硫化腐蚀。厚膜电阻的面电极含有银元素,银元素暴露在空气中极易与硫发生化学反应。如果外部保护层和电镀层没有紧密结合,则面电极会与空气中的硫接触。当空气中含有大量含硫化合物时,银与硫化物反应生成硫化银,由于硫化银不导电,且体积比银大,在化合后,体积膨胀,导致原先银层的断层,电阻值逐渐增大,直至断路。为了防止厚膜电阻硫化,可选用抗硫化能力强的电阻。在面电极上涂覆保护层,通过导入不含Ag、且具有导电性的硫化保护层,从而保护上面电极,彻底杜绝硫化的通路。典型抗硫化电阻封装结构如图1所示。通过1年的对比应用试验表明,电阻硫化失效率大大降低,新封装结构的厚膜电阻具有良好的抗硫化作用。

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图1 带抗硫化涂层的贴片电阻结构

2)硅胶封装LED硫化腐蚀失效。典型的贴片封装LED结构如图2所示,其中与金线相连的一般为镀银支架,灌封材料则通常根据厂商而异。实际应用中,在含硫量较高的地区使用硅胶封装LED,被硫化的风险很高。如图3所示,硅胶封装的LED内部支架已经发黑,经过测试,无法点亮。将失效硅胶封装LED机械开封后,在金相显微镜下观察到内部键合点和支架的形貌如图4和图5所示。支架出现严重发黑,甚至露出基底铜层的颜色,外部键合点已脱落,芯片位置的银胶发黑严重。选取LED支架区域的两个位置进行EDS能谱分析,如图6所示。在支架区域分别检测到了质量分数为13.02%和5.38%的硫元素。

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图2 贴片LED结构

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图3 被硫化的硅胶封装LED

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图4 金相显微镜下的被硫化的硅胶封装LED开封图片

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图5 LED支架区域SEM图像

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图 6EDS分析结果


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