为了同时保证达到高灵敏度和快速反应的要求，密析尔创造了一种独特的侦测算法，并辅以全新的适合高纯气的陶瓷传感器设计。除此以外，Pura Plus 还可以满足半导体行业的特殊的包装要求，Pura Plus达到了材质和表面处理的zui高标准， 整个装配和包装都是在100 级的洁净室完成。在包装前，密析尔还要在10-9 bar / 秒的条件下对Pura Plus进行密封性测试，以达到在两年内免维护和正常工作的设计要求。信号通过MODBUS输出，以LED交通灯的形式显示警告和报警状态。将来还将具有4-20mA输出。

这款新的传感器是密析尔仪表针对晶圆工业在尺寸和规格方面需求的相应。晶圆厂不断地在推动技术以达到在元件尺寸和封装上的要求。新的更大尺寸的晶圆具有更昂贵的单位价值，使得晶圆厂不断提高产出，减少由于污染而导致的残品率。当前规定大宗散装惰性气（N2，Ar）的潮气污染水平要小于10 ppb， 而趋势是要降低至1ppb以下。

通常，在大宗散装气体进入FAB前的zui末端，通过安装大型而复杂的仪器来监测湿度污染，存在着价格昂贵而且反应速度慢的问题， 而大宗气体的湿度污染是不常发生的； 与此相反，在FAB的内部，由许多的分管，节点，和使用点而构成的管网，即传统的湿度监测点的下游，潮气进入却是经常发生的，造成的原因可能是微小的泄漏，系统设计缺陷，元件损坏，或者流程上的失败。Pura Plus 的小巧尺寸和创新概念使得在多个使用点的安装成为可行，成为保护晶圆制造流程的一个投入少，见效快的手段。