美国Microsense位移传感器提供高稳定性和线性方案、高分辨率、高带宽测量方案，用于测量硬盘驱动马达，气动轴承转子，X-Y样品台准确度，光盘，汽车零部件和机床等测量。
美国Microsense位移传感器特点：
1、高准确性，高灵敏性测量，高精度可达0.5nm。
2、优化的近距离测量—测量距离在10微米到5毫米。
3、完全非接触式电容式微位移测量准确的电子感应技术，无损样品测量。
4、可探测任何可传导性、接地的测量目标—表面是否抛光以及材质对测量准确度无任何影响。
5、用途广泛：金属薄片厚度测量，振动测量，工作台垂直度(Straighness)和平坦度(flatness)测量，精密马达转轴偏振测量(Axial，
Radial，Spindle
runout)，精密仪器工作平台定位，设备自动聚焦测量(微影设备，原子力显微镜，光罩探测，图像确认，LCD生产设备…)
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