用于检查硅片的表面光洁度-horiba高光泽度检查仪IG-410

用于检查硅片的表面光洁度-日本horiba高光泽度检查仪IG-410

总览

高光泽度光泽度检查仪IG-410是一种方便使用的类型，可方便地进行现场工作，并且只需将与显示单元分开的测量单元应用于被摄体即可进行测量。使用近红外线作为光源，并测量了1000的光泽度（镜面反射率100％）。

无需预热。对于需要高表面光泽度的产品（例如用于汽车前灯的照明反光器，用于复印机的反光器和硅片）的质量控制而言，它是理想的选择。

特征

• 甚至在金属等高光泽区域
  也可以量化“模糊度” IG-410可以测量金属等高光泽区域，是光泽度检查仪IG系列的新产品。测量范围是0到100，是传统型号的10倍。也可以测量镜面样品。

• 紧凑轻巧的设计，易于现场测量
  重量仅为350g，易于携带。由于是一键式操作，因此可以将其带到生产现场以方便测量。
  由于将LED用作光源，因此无需担心光源的寿命。

• 可以通过
  在2个范围之间切换来测量低光泽度，可以在0到100和0到100的2个范围之间切换。每个范围都带有自己的校准板。
  IG-410不仅可以测量高光泽度金属，还可以测量低光泽度区域，例如涂在金属板上的样品。

应用实例

• 用于检查金属产品表面状况的光洁度

• 用于检查轧制铝板和不锈钢板的外观

• 用于检查电镀产品的外观

• 用于检查硅片的表面光洁度

*由于光泽度是通过光的反射来测量的，因此测量点必须平坦。

规范