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ICP光源的电离干扰、化学干扰和基体干扰相对较小的原因

2021.5.21
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吉庆

致力于为分析测试行业奉献终身

试样引入ICP光源的主要方式有：
雾化进样（包括气动雾化和超声雾化进样）、电热蒸发进样、激光或电弧和火花熔融进样，对于特定元素还可以采用氢化物发生法进样。其中，以气动雾化方式最为常用。
原因包括（1）样品在ICP光源中的原子化与激发是在惰性气体Ar的氛围进行的，因此不容易氧化电离；（2）样品的原子化与激发过程是在ICP焰炬的中心进行的，温度很高，且与空气接触的机会少，因此不容易氧化电离；（3）ICP焰炬中存在大量的电子，抑制了待测元素的电离。

icp/电离干扰/基体干扰
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