原子光谱技术作为现代分析检测技术中的一个重要组成部分，在分析领域中占据着举足轻重的地位，而其发展也反映了分析技术的不断改革与创新。综述了中国原子光谱技术近15年来（2000年—2014年）的研究与应用进展。内容涉及原子光谱的多个分支领域，包括原子发射光谱，原子吸收光谱，原子荧光光谱，X射线荧光光谱以及原子质谱五种原子光谱技术。
原子发射光谱(AES)：原子发射光谱法，是根据每种化学元素的原子或离子在热激发或电激发下，从激发态回到基态时发射的特征谱线，进行元素定性、半定量和定量分析的方法。它是光学分析中产生与发展最早的一种分析方法，却也是原子光谱技术研究中较为薄弱的一个部分。
原子吸收光谱(AAS)：原子吸收光谱包括火焰原子化吸收光谱，石墨炉原子化吸收光谱，氢化物发生原子吸收光谱等。
原子荧光光谱(AFS)：典型原子荧光检测过程是以氢化物/冷蒸气发生方式实现样品的导入，氩氢扩散火焰原子化器实现被测元素的原子化，自由原子被空心阴极灯激发后发射的原子荧光，以无色散光路被 光 电 倍 增 管 接 收，获 得 原 子 荧 光 信 号。理 论 上，AFS兼具AES和AAS的优点，同时也克服了两者的不足，但是，由于AFS存在散射光干扰及荧光猝 灭 严 重 等 固 有 缺陷，使得该方法对激发光源和原子化器有较高的要求。
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
原子质谱(AMS)：原子质谱（AMS）又称为无机质谱法，是将试样原子化后采用各种离子源使其离子化，按质荷比不同而进行分离检测的方法，广泛用于各种试样中元素的定性和定量检测。
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