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晶体结构测定方法，crystal structure determination，即利用晶体 X射线衍射可测定晶体结构。但衍射实验只能测得衍射强度（即结构振幅）而测不到相角，这样就不可能直接从强度得到晶体结构数据，而要利用其他方法。
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