二阶微分火焰光谱仪的工作原理

　　采用火焰原子发射光谱法（FAES）测量原子的特征谱线强度时,由于在特征谱线周围存在有连续背景“干扰谱线”,或特征谱线坐骑在一个很宽的分子辐射的峰上。这时在特征谱线λ处测到的谱线强度I1并不是所测特征谱线的真实强度,而是包括了分子辐射等连续背景“干扰谱线”在特征谱线附近的“背景干扰强度”I0 。因此，Iλ=I1-I0 才是测量原子的特征谱线的真正强度。由于特征谱线辐射和分子辐射往往是由同一分析样品或同一光源辐射出来的，因此采用一般的“光学调制”或“电学调制”的方法是不能将其与主信号有效分离的,特别是当“背景干扰强度”I0很强或测量原子的特征谱线强度Iλ很弱时，待测元素的特征谱线就会被“淹没”在强大的“干扰谱线”之中。以钠原子的589.0nm特征谱线为例，在用空气－乙炔火焰激发时，在特征谱线附近存在有火焰高温微粒发射的连续光谱和分子态物质发射的带状光谱等较强“背景干扰”， 使得对极低浓度钠（痕量：“µg/L”）的检测工作无法正常进行。

　　从数学概念上说，“二阶微分火焰光谱”是对上述叠加谱线进行二次微分得到的消除了背景干扰谱线的被测原子的特征谱线的二阶导数谱。由于分子（背景干扰）谱线都比较宽而且变化平缓，因此，经过二次微分处理后就被“削平”消失了。