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致力于为分析测试行业奉献终身
SEM是扫描电镜,所加电压比较低,只是扫描用的,相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜,所加电压高,可以打透样品,AFM一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。