一、x一射线荧光分析仪(xrf)简介
x一射线荧光分析仪(xrf)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在x射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级x射线(即x一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述x射线所采用的两
个物理i.波长色徽型x射线荧光光诺仪(wd-xrf)是用晶体分光而后由探侧移接收经过衍射的特征x射线信号。如果分光晶体和控侧器作同步运动.不断地改变衍射角.便可获得祥品内各种无索所产生的特征x射线的波长及各个彼长x射线的强度.可以据此进行定性分析和定i分析.该种仪器产生于4年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时侧定.受到砚注.特别在地质部门，先后配工了这种仪器.分析邃度显着提高，起了i要作用。随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探洲器以后，对x一炙光进行能谱分析成为可能。能谱色散皿r射线荧光光谱仪(ed-xrf).用x射线管产生原级x射线服射到样品上，所产生的特征x射线(荧光)直接进入si
(li)探侧器，便可以据此进行定性分析和定f分析.第一台ed-xrf是iil1年问世的.近几年来.由于商品ed-xrf仪器及计算机软件的发展，功能完普，应用领城拓宽，其特点、优越性日益受到认识，发展迅猛.
二、波长色散型x射线荧光光谱仪与能量色散型x射线荧光光谱仪的区别
虽然故长色傲型(ed-xrf)x射线荧光光滋仪与能i色徽m
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