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石英晶体微天平只对单层质量敏感吗

2022.2.22
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超级艾蛋木啊

致力于为分析测试行业奉献终身

QCM并不是只对单层质量敏感，当芯片上的吸附层为刚性吸附的时候，可以通过sauerbery方程来计算吸附层质量的变化，这个与单层和多层无关。如果你要测的样品并不是刚性吸附，而是粘弹性吸附，则无法通过频率来计算质量变化。
新型的石英晶体微天平QCM-D，可以同时测量吸附成的耗散变化，可以同时提供在吸附过程的频率变化和耗散变化图。

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