激光测长机的基本工作原理

国内比较常用的两种非接触测量方法，一种是基于CCD器件接收光信号的测量方法，另一种是激光扫描测量方法。

两种方法各有各的优势以及劣势，下面让我们来看看他们的基本工作原理。

第一种测量原理：CCD尺寸测量

CCD尺寸测量系统基本都由CCD像传感器、光学系统、微机数据采集和处理系统组成，我们先来看一下采用CCD测量的基本原理：

线阵CCD平行光法进行非接触测量的基本原理：将线阵CCD置于平行光路，被测物放于CCD前方光路中，射向CCD的光就被物体挡住一部分，因此CCD输出的信号就有一个凹口。显然，凹口的宽度与物体的尺寸有一一对应的关系，我们利用数字电路设计和计算机处理就很容易的得到凹口对应的CCD像元数，从而计算出被测物体的尺寸。但是我们也很容易的发现一个问题：这种测量方法要求CCD光敏区的长度大于被测物体的尺寸，而大尺寸的CCD特别昂贵，所以必须通过其他方法来实现光的接收。

第二种测量原理：激光扫描测量

激光扫描测径仪系统采用激光器发出的光束通过多面体扫描转镜和扫描光学系统后，形成与光轴平行的连续高速扫描光束，对被置于测量区域的的工件进行高速扫描，并由放在工件对面的光电接收器接收，投射到光电光电接收器上的光线在光束扫描工件时被遮断，所以通过分析光电接受器输出的信号，可获得与工件直径有关系的数据。