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徕卡新品丨微电子和半导体用检验系统 DM3 XL

2017.8.04

在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快。

DM3 XL 检验系统凭借高稳定性大载物台,大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率。充分利用独特的宏观物镜,视场宽敞 30%。

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平托式6”大载物台,稳重大气


为用户大样品需求量身定制的6”大载物台,摒弃了传统的悬臂式固定方式,采用了平托式技术,帮助客户更快速精准的进行样品定位。

多种可选载物台插件满足您的更多需求。无论您想要检验的样品是哪种类型,尺寸如何,均有种类丰富的载物台插件供您选择。



DM3 XL 针对所有相衬观察方法使用 LED 照明。LED 照明可提供恒定的色温,并在所有亮度等级下提供真彩色成像。

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光学“高手”


DM3 XL 让您以实惠的价格享受到卓越的光学性能。

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有效的人机工程学设计让工作更舒适直观


彩色编码光圈辅助 (CCDA) 对分辨率、对比和景深的基本设置进行简化,有助于提升您的工作速度,并最大程度减少操作失误。

直观明了的功能帮助您的团队更快速地交付最佳结果。

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