挑战：找到合适的设备和实际测试设置
如图1所示，将2 kΩ电阻串联在运算放大器的输出端，以将激励从电压源转换为电流源。这将允许节点“r”中存在小电压（它不会与在运算放大器的同相引脚中所看到的电压相差太远），并将导致小电流流入待测CDM的输入端之间。当然，现在的输出电压很小（由待测器件（DUT）进行缓冲），而且CDM中的电流也很小（在本仿真中为57 nA），因此在工作台上使用1 Ω电阻进行测量将很困难。LTspice．ac和LTspice．tran仿真没有电阻噪声，但现实世界中的1 Ω电阻具有130 pA／√Hz的噪声，从我们预期的57 nA电容电流中只能产生57 nV信号。进一步的仿真表明，用50Ω或1 kΩ代替R1不会导致在目标带宽范围内的频率下流入CCM＋的损耗电流过大。为了获得比简单电阻更好的电流测量技术，可使用跨阻放大器（TIA）代替R1。TIA输入会连接到运算放大器的同相引脚，在该引脚上需要电流，同时电压固定为虚地以消除CCM–中的电流。事实上，这正是Keysight／Agilent HP4192A等四端口阻抗分析仪的实现方式。HP4192A可以在5 Hz至13 MHz的频率范围内进行阻抗测量。市场上采用相同阻抗测量技术的一些新设备包括具有10 Hz至120 MHz范围的E4990A阻抗分析仪和具有20 Hz至2 MHz范围的精密LCR表（如Keysight E4980A）。
如下面图2测试电路所示，由于阻抗分析仪内部的TIA，运算放大器的同相引脚保持虚地状态。正因如此，CCM＋的两个端子都被视为处于地电位，因此不会影响测量。DUT的CDM两端产生的小电流将流经TIA的反馈电阻Rr，然后由内部电压表进行测量。
图2．CDM测试电路。
任何使用自动平衡电桥1阻抗测量方法的四端口设备都是测量CDM的合适选择。它们设计为从内部振荡器产生正弦波，该内部振荡器以零为中心点，具有正负摆幅，可用于双电源供电。如果运算放大器DUT由单电源供电，则应调整偏置功能，以使信号不会发生对地削波。图3中使用了HP4192A，并显示了与DUT的详细连接。
图3．CDM直接测量方法的测试设置。
图4显示了确切的测试设置，以使电路板和连线对CDM的寄生电容贡献极小。任何通用电路板均可用于低速运算放大器，而高速运算放大器则需要更严格的PCB板布局。垂直接地的铜分隔板能确保输入端和输出端看不到与DUT CDM平行的其他场路径。
图4．HP4192A设置电路板演示。右侧为通过2 kΩ的激励和电压回读。所用DUT是贴于LB2223实验板上的8引脚SO封装的LT1792。TIA位于HP4192A内部的左侧。
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