X射线为表面残余应力测定技术中数量较少的无损检测法之一，其是利用材料或制品晶面间距的变化来对应力进行测定的，作为残余应力分析和检测方法，对其研究的非常广泛，深入以及成熟。X射线残余应力分析仪利用圆形全二维探测器对X射线在给定角度入射后的全部衍射德拜环进行获取，不需要测角仪，使传统X射线残余应力分析仪的测试局限得到摆脱，使真正的现场测量和不规则形状样品测量变成可能。
X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一，是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的，也是研究得最为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之一。X射线残余应力分析仪利用圆形全二维探测器获取X射线在给定角度入射后的全部衍射德拜环，无需测角仪，摆脱了传统X射线残余应力分析仪的测试局限，使得真正的现场测量和不规则形状样品测量成为了可能。
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