1、EBSD测定的织构可以用多种形式表达出来，如极图、反极图、ODF等（见图5）。同X-ray衍射测织构相比，EBSD具有能测微区织构、选区织构并将晶粒形貌与晶粒取向直接对应起来的优点。另外，X射线测织构是通过测定衍射强度后反推出晶粒取向情况，计算精确度受选用的计算模型、各种参数设置的影响，一般测出的织构与实际情况偏差15%以上。而EBSD通过测定各晶粒的绝对取向后进行统计来测定织构，可以认为EBSD是目前测定织构最准确的手段。当然与X-ray比，EBSD存在制样麻烦等缺点。
2、用EBSD同时测定两个相的晶体学取向时，可以确定两个相之间的晶体学关系。为了确定两相间的晶体学关系，一般需要测定30处以上两相各自的晶体学取向。并将所有测定结果同时投影在同一极射赤面投影图上进行统计，才能确立两相间的晶体学关系[3]。与透射电镜和X-ray 相比，采用EBSD测定两相间晶体学取向关系具有显著的优越性。用于EBSD测试的样品表面平整、均匀，可以方便地找到30个以上两相共存的位置。同时晶粒取向可以用软件自动计算。而透射电镜由于样品薄区小的关系，难于在同一样品上找到30个以上两相共存位置。另外，其晶粒取向需手动计算。X-ray一般由于没有成像装置，难于准确将X-ray定位在所测定的位置上。
3、另外，当第二相与基体间的惯习面、孪生面、滑移面等在样品表面留下迹线，尤其在两个以上晶粒表面留下迹线时，可以采用EBSD确定这些面的晶体学指数。
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