1) 样品制备
XRF样品制备简单,但并非无需样品处理,XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求,这些方面都会不同程度影响分析精度,使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响,譬如:研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法。
2) 定量模型
XRF定量模型的建立要充分考虑标准样品的选择、基体的匹配、校正算法的建立、目标样品的适用性等,这些方面都会影响到定量精度,往往这些方面需要分析工作者有丰富的经验。
3) 样品适应性
即使建立可靠的定量模型,但对目标样品适应性也非一劳永逸,也要充分考虑目标样品的物理形态、元素含量范围、基体与标准样品一致性等条件,这些条件与建立定量模型采用的标准样品不一致,会一定程度造成定量误差。
4) 质量控制
在分析目标样品过程中,采用其它实验室分析方法进行定量精度的控制是必要的,不同分析方法存在偏差是必然的,当偏差较大时,应进一步充分验证两种分析方法的精度,目标是提升XRF定量精度。