多通道发光器件稳定性测量系统广泛应用于OLED、LED等发光器件IVL、稳定性、寿命等测量。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。该系统是评估发光器件稳定性、寿命的必备设备，其通道可拓展功能强、测试参数全面，可提升器件测试效率。
EL-Lab 多通道电致发光特性测量系统是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的 重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完 善的电致发光的测量方案。
EL-Lab 系统由一系列相应的分布测量组件组成，包括光电测量模块、亮度校准模块、 光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的 测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同 或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变 温测量、老化测量等。
EL-Lab 多通道电致发光特性测量系统可以实现电致发光器件的以下测试
l 发光效率参数：外量子效率、电流效率、功率效率等；
l 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率密度等；
l 辐射度学参数：光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等；
l 光度学参数：亮度、光通量等；
l 色度学参数：CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1、显色指数等；
l 器件老化参数：不同老化时间下的上述参数；
l 变温测量等。
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