各有关单位：
为进一步加强半导体分析检测技术高技能人才队伍建设，使科技人员适应科学技术的发展，掌握该技术领域的新技能，新方法，开拓视野，提高科学实验技能和实验仪器的使用效能, “半导体材料与器件分析检测技术”培训班将于近期在上海举办。本次培训由中国科学院人事局资助、中国科学院上海硅酸盐研究所主办、上海无机非金属材料分析测试专业平台和上海材料与制造大型仪器区域中心协办。现将培训班相关事宜通知如下：
一、培训时间和地点
培训时间：2024年7月16-19日（日程安排见附件1）
培训地点：中国科学院上海硅酸盐研究所（上海市嘉定区和硕路585号）
二、培训对象
相关领域从事半导体、电子/电气相关研究的科研人员和分析工作者。
三、培训内容
培训班将邀请本领域专家，采取专题讲座、专项技术培训、现场参观和实践技能交流等方式开展。培训内容包括：光电材料与器件、第三代半导体材料与器件、传感器与MEMS、半导体产业配套原材料等热点材料、器件和材料分析、可靠性测试、失效分析、缺陷检测和量测等热点分析检测技术等。
四、报名方式
请于 2024年6月30日17:00 之前填写报名回执（附件2），通过邮箱发送至培训联系人（邮件请以“半导体材料与器件分析检测技术培训班报名-单位名称-姓名”为主题命名）。本次培训班因名额有限，主办方将根据学员报名情况进行遴选，并通过邮件形式向学员发送培训确认通知。
五、其他事项
（一）本次培训班不收取培训费，主办方为学员提供工作餐，学员往返交通费及住宿费自理。（中国科学院属单位非上海地区学员住宿由主办方统一安排）。
（二）培训班名额有限，经遴选参加培训的学员原则上不得请假。
六、培训日程安排
| 日期 | 时间 | 内容 |
| 7月16日（星期二） | 13:30-18:00 | 报到 |
| 7月17日（星期三） | 8:30-9:00 | 报到 |
| 9:00-9:30 | 开班仪式 | |
| 9:30-10:40 | 集成电路产业现状，需求和方向 | |
| 10:50-12:00 | 等离子体质谱技术及其在高纯半导体材料分析应用 | |
| 13:30-14:40 | 有机半导体材料的质谱分析技术 | |
| 14:40-15:30 | 等离子体质谱技术在特气分析应用 | |
| 15:50-17:00 | 半导体化合物质谱分析 | |
| 7月18日（星期四） | 9:00-10:20 | 扫描电子显微镜技术及其在半导体结构解析的应用 |
| 10:40-12:00 | 透射电子显微镜技术及其在半导体结构解析中应用 | |
| 13:30-14:40 | 离子色谱介绍及在高纯水分析 | |
| 14:40-15:30 | 离子色谱在高纯半导体材料分析中的应用 | |
| 15:40-17:00 | 拉曼光谱技术及其在半导体晶圆质量检测中的应用 | |
| 7月19日（星期五） | 9:00-10:10 | 集成电路材料国产化面临的性能检测需求 |
| 10:10-10:50 | 等离子体质谱技术在高纯化学品分析应用 | |
| 10:50-12:00 | 高端集成电路5A分析评价技术 | |
| 14:00-15:20 | 学员交流 | |
| 15:40-17:00 | 现场交流 |
注：如有特殊情况，培训日程以实际安排为准.
在线报名：https://c.antpedia.com/63431/introduction.html
联系人：陈亚楠、汪正
联系电话：021-69906550
邮箱：chenyanan@mail.sic.ac.cn
中国科学院上海硅酸盐研究所
2024年6月7日
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