【邀请函】—颗粒、粉体、膜（P3）分析与表征技术上海研讨会

材料表征领域的领导者Micromeritics麦克仪器公司将举办《颗粒、粉体、膜（P3）的分析与表征技术研讨会》，分享国际领先的材料表征技术及实际应用，为用户的材料分析与表征提供完整性解决方案。诚挚邀请您出席本次研讨会！

时间：2019年9月19日全天

地点：上海浦东（待定）

费用：免费

内容：

颗粒、粉体、膜的特性与综述；

颗粒粒度分析：电阻法，X沉降法与亚筛分法

颗粒形态分析：动态图像法

颗粒粉体分析的样品制备：取样，缩样与分散

孔径分析：气液与液液孔径分析方法

粉体流动性分析

咨询电话：021-51085884-807

研讨会主要主讲人：