精微高博参展CIBF第十三届中国国际电池技术交流会

精微高博参展CIBF第十三届中国国际电池技术交流会

5月22-24日，CIBF第十三届中国国际电池技术交流会将于深圳会展中心开幕，北京精微高博科学技术有限公司携高性能比表面及孔径分析仪亮相。

JW-BK200C是一款研究级高性能双站比表面及微孔分析仪，非常适合炭材料、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究应用。具有两个完全独立的微孔孔径分布分析站，可同时测试。此产品测试技术达到国际先进水平.

孔径范围  0.35-500nm

比表面测试范围 ＞0.0001m2/g

中值孔径重复精度 ＜0.02nm

比表面重复精度  ±1%

电池材料专用产品JW-DX

JW-DX是目前国内外唯一一款采用吸附方法来测试BET比表面积的流动色谱法比表面分析仪器，能显著提高电池材料、医药辅料、无机粉体材料及各种粉体材料的比表面测定水平。每个样品独立进行吸附，测试精准。

氮分压P/P0范围  0.05-0.35

比表面测试范围 ＞0.01m2/g

测试重复精度  ±1%

测试效率  5min

参观指南

时间：2018年5月22日-24日

地点：深圳市福田中心区福华三路深圳会展中心，我们在8号馆等您哦

精微高博展位号：8B041