离子淌度（IMS）是一种根据离子的大小、形状、电荷和质量来区分离子的技术。该技术通常应用于小型便携式设备，在机场和偏远地区用于快速检测淌度值已知的小分子（例如某些麻醉剂和炸药），而它与液相色谱-质谱(LC/MS)技术结合之后，能够为分析提供正交的分离维度，带来某些独特的关键功能。
进行离子淌度（IMS）分离的主要方法有三种，差分IMS、漂移管IMS和行波IMS。每种方法各有其优势：
差分IMS：只传输具有特定淌度值的离子，提高目标分析物的特异性，仅用于定量分析。
漂移管IMS：可通过直接测量计算出碰撞截面积（CCS），但这个过程相当耗时。
行波IMS：可在较短的淌度池内进行分离，因此仪器体积更小，同时也是三种淌度技术中唯一的正交分离技术，能够在不影响灵敏度的前提下测定CCS值。这种IMS分离方法经过校准之后，可快速轻松地测定观察到的所有离子的CCS值。
行波IMS能与LC/MS完美兼容，这也是沃特世将该技术应用于IMS仪器的原因所在。
为何有必要测定离子的CCS值？
离子的碰撞截面积（CCS）是离子在气体中迁移时与气体碰撞接触的平均面积，通常以平方埃（Å2）为单位测量。CCS值与离子的化学结构（质量和大小）以及三维构象（或形状）有关。下图通过将分子截留在一个球体中来说明CCS值的计算 — 该分子的CCS值可视为这个球体所投射的“阴影”。
在典型的操作条件下，CCS值是一个稳定而精确的测量值，并且与离子结构相关。测得离子的CCS值有助于我们对其进行鉴定和表征。CCS值提供的额外信息与样品基质和色谱方法无关，因此即使样品种类和色谱条件改变，我们仍然能准确鉴定分析物。
在许多应用中（例如食品安全监测、代谢物鉴定和杂质分析），这都有助于我们可靠地检测分析物、减少假阳性和假阴性结果，从而降低进行额外确证分析的需求，提高工作效率。
以前，离子淌度和CCS值的优势仅仅局限于复杂的研究型应用领域。如今，沃特世LC/IMS/MS仪器（SYNAPT® G2-Si和Vion™ IMS QTof）将这种优势引入了从科研到常规分析的各个领域。
更多信息，敬请观看我们的最新视频，详细了解IMS的基本原理和应用CCS数据的优势。
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