继去年牛津仪器推出基于CMOS技术的Symmetry EBSD探测器以来，今年我们又发布了一款基于此技术的最新EBSD探测器C-NANO。
C-NANO 是一款杰出的高分辨型CMOS EBSD, 它的采集速度比基于CCD的高分辨EBSD探测器有显著提高。最快采集速度能达到400点/秒，同时花样分辨率达到312x256像素分辨率。在1244x1024像素的全分辨率条件下，最快采集速度能达到80点/秒。
C-NANO集成了最佳灵敏度和速度，非常适合高花样质量要求的应用，可在低电压低束流条件下，实现快速EBSD成像。
C-NANO具有优秀的探测器设计，锥形的前端避免遮挡其他探测器，超级高效率的光学系统具有很低的图像畸变，每个探测器在出厂检测时图像畸变小于一个像素。C-NANO探测器具有非接触式碰撞探测，能在碰撞发生之前报警规避，这将增加操作者的信心。
C-NANO可以用于所有的EBSD应用，尤其适合分析复杂的矿物和氧化物、变形态的金属和合金、纳米材料、复杂的相结构分析、TKD实验，以及采集高分辨EBSD花样。
图一 氧化锆的全分辨率EBSD花样, 1244 x 1024像素
图二 合成仿珍珠层结构Al2O3样品的取向分布图（红色的孪晶界）, 采集速度342点/秒, 标定率96%, 加速电压15kV。
感谢Dr. Thierry Douillard, INSA Lyon提供样品。
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