采用 ICP-MS 进行重金属检测时，复杂的高基质样品（如高盐、强酸、强腐蚀样品）是否让您苦不堪言？
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采样锥的作用
ICP-MS 接口处有一对钻有小孔的金属圆锥，它们之间的空间是密闭，第一和第二个锥分别被称为采样锥和截取锥。其作用是从等离子体中提取具有代表性的样品离子，并将其高效地传输到离子透镜、质谱分析器和检测系统所在的高真空区域。
接口锥的锥孔大小、形状非常关键，它会影响仪器的多种性能，包括灵敏度、质量响应、氧化物和双电荷离子的形成、大气压到高真空的过渡、以及对高基体样品的耐受程度。安捷伦 ICP-MS 仪器常采用直径为 1 mm 的采样锥和 0.4 mm 左右的截取锥配套使用（参数依据仪器型号略有差异）。
不同 ICP-MS 采样锥，
满足不同应用需求
1. G3280-67040 镍采样锥（带 Cu 基座的 Ni 尖锥）
标配的镍采样锥，适合于大多数常规应用，提供最经济的操作。比如饮用水中金属元素测试，可以使用镍采样锥，提供良好的测试结果。
2. G3280-67061 镀镍采样锥（带镀镍 Cu 基座的 Ni 尖锥）
海水是一种极具挑战性的基质。净海水含有大约 3% 的总溶解固体（主要是 NaCl），这些盐类会堆积在雾化器尖端、炬管注入管以及接口锥上，引起信号不稳定和灵敏度逐渐损失。HMI 系统使用“气溶胶稀释”降低了 ICP-MS上的基质载量，使海水等高基质样品可直接进样。
同时样品中的高盐成分还会影响铜基座的寿命，因此测试该类样品时，采用带有镀镍铜基座的镍采样锥，寿命更令人满意。
3. G3280-67036 铂采样锥（带 Cu 基座的 Pt 尖锥）
能源样品如润滑油以及半导体制造中会使用许多有机溶剂和产品，包括 IPA（异丙醇）、甲醇、NMP（N-甲基吡咯烷酮）。在分析这类有机样品时，样品气溶胶中的高浓度碳会导致碳（烟灰）沉积在采样锥上，从而导致不稳定和信号漂移。为防止碳沉积，将氧气添加到载气中以氧化等离子体中的碳。将氧气添加到等离子体中时，等离子体环境的反应活性显著提高，在此环境中镍锥锥扣会快速劣化，因此需使用铂采样锥。另外如果测试高含量HF样品时，HF 也会严重腐蚀镍锥口，因此在分析此类样品中，也需要使用铂采样锥。
4. G3280-67056 大尺寸铂内插管（18 mm，带 Cu 基座的 Pt 尖锥）
硫酸 (H2SO4) 用于半导体清洗过程。测试硫酸时，必须将标准铂尖接口锥替换为大尺寸 18 mm 铂尖接口锥。H2SO4 气溶胶会在采样锥的尖锥周围形成凝胶状沉积物，可能腐蚀采样锥的铂尖锥和 Cu 基座之间的连接点。使用具有较大直径的铂内插管的采样锥可避免此类腐蚀。
磷酸 (H3PO4) 比 H2SO4 的粘 2.4 倍度高，因此在分析 H3PO4 时，也需要采用具有较大铂尖采样锥，以免锥尖部周围受到腐蚀。
5. G3280-67142 铂-镀镍采样锥（带镀镍 Cu 基座的 Pt 尖锥），新品
对于含有HF的高基体样品，铂锥上的铜基仍然面临腐蚀 。铂-镀镍采样锥，其底座为镀镍铜基座，有更强的耐腐蚀性。
寿命延长：当运行 10% 王水基质时，锥体寿命延长两倍以上
简化客户日常维护工作：清洗频率减少三倍以上；简单的一步清洁程序，仅使用水超声
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