五位院士，大咖云集 | TESCAN贺2020年全国电子显微学学术年会圆满闭幕

2020年11月24日，2020年全国电子显微学学术年会在成都圆满闭幕。本次大会以“显微学激发新希望”为主题，为期3天，来自高校研究所、企事业单位等千余电镜领域专家学者们出席了本次大会。

大会现场

大会开幕式由中国电子显微镜学会理事长韩晓东主持，中国科学院院士、大会主席张泽和中国工程院院士姚骏恩分别致辞。开幕式上，国家纳米中心特聘研究员甘雅玲代表全体会员祝贺了中国电子显微镜学会成立四十周年。之后的大会报告环节上，依次由中国科学院院士、大会主席张泽，东南大学教授孙立涛，中国科学院院士叶恒强，中国科学院金属研究所研究员马秀良，中国电子显微镜学会理事长韩晓东，北京林业大学教授林金星主持，十二位著名学者、相关仪器设备厂商专家代表分别为大家呈现了精彩的报告。

朱新利 博士

《TESCAN All-In-One 电镜综合解决方案》

TESCAN公司应用部经理朱新利博士代表公司在大会报告上做了精彩发言，以《TESCAN All-In-One 电镜综合解决方案》 为题为在座的来宾带来了TESCAN的All－In－One电镜综合解决方案，包括扫描电镜、双束聚焦电镜系统FIB-SEM、自动矿物分析系统TIMA、TOF－SIMS飞行时间二次离子质谱等，并详细介绍仪器的实际应用案例及帮助国内外科研人员取得的丰硕科研成果。

TESCAN一直遵循的是“ALL IN ONE”微区综合表征的设计理念，即在一套系统中集微观形貌、元素分析、取向分析、结构分析、分子组成、结晶及应力等多种信息表征为一体，让用户能够充分体验TESCAN设备在微区综合分析能力上的强大优势。值得一提的是，正是由于“ALL IN ONE”的设计理念，TESCAN产品可以在后期根据用户的需要，非常方便的加配原子力显微镜、EBL、EBIC、CL、原位加热台、冷台及拉伸台等，各种探测器和拓展的分析附件，为科研拓展新的思路和可能性！

TESCAN公司在大会现场展位

TESCAN独有的综合解决方案在市场上被推广后，迅速地受到广大客户的认可和欢迎，充分证明了当今微区综合分析的重要性以及TESCAN在这一领域的优势。