Conductive AFM模块原理及其应用复播视频
4月7日的讲座详细介绍了C-AFM（导电原子力显微镜）的不同类型样品的制备和探针种类的选择与推荐。同时还介绍了对于样品测试时电流放大器Gain增益，setpoint 和 scan rate参数优化。
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复播视频
Park原子力显微镜
4月28日网络讲座：
原子力轮廓仪的原理及其应用
Principles and Applications of
Atomic Force Profiler
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4月28日讲座
上午10:00-11:00
Park Webinar
Park低杂讯原子力显微镜与长距离滑动平台（Long range sliding stage）技术相结合，创造出原子等级的长距离表面轮廓分析仪器（Atomic Force Profiler, AFP）. 最佳轮廓的精度和重复性，使其成为半导体产业先进制造中不可或缺的分析仪器。
Park独家的非接触式扫描（True Non-Contact Mode）,让原子力显微镜可以进行线上（In-line）非破坏式高解析扫描，不仅大幅延长了探针的使用寿命，也保护了样品表面不受探针的损伤。而利用2D profile 模式，用户能够获取比传统AFM更大范围的表面轮廓（可达50mm x 50mm）,并能达到原子等级的高度信息。
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帕克讲座
本次讲座介绍了AFM以及非接触式扫描的基本原理，比较不同表面轮廓分析仪器的差异，再进一步讲解Atomic Force Profiler 模式在不同类型样品的量测及分析方法，以及Atomic Force Profiler大范围扫描在产业界的研究及应用的优势与发展。
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400-878-6829
www.parksystems.cn
Park北京分公司
北京市海淀区彩和坊路8号天创科技大厦518室
Park上海实验室
上海市申长路518号虹桥绿谷C座305号
Park广州实验室
广州市天河区五山路200号天河北文创苑B座211
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