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UPLC-QTof联用改善液晶显示屏品质
今天，我们周围随处可见液晶显示屏（LCD）的身影，电视、手机、计算机、户外广告牌等，为生活增添了诸多便利和乐趣。然而，光鲜的表面背后蕴藏着非常精细的制造工艺，一个微小的污染物颗粒就能导致整个工艺失败。液晶原料中所含的杂质会严重影响产品质量、生命周期以及公共安全。
不同LCD制造商产品之间的差异往往来自所用的液晶（LC）材料以及制造工艺的杂质控制水平。为了在激烈的市场竞争中脱颖而出，LCD制造商们都在努力通过减少降解因子、控制LC材料的杂质水平以及开发性能优异的新产品来提升产品竞争力。
在材料性能方面，LCD制造商主要通过改变不同类型LC材料（例如酯类LC、联苯类LC和苯基环己烷类LC）与基底材料的混合方法来强化LC性能。
在工艺控制方面，通常从电压、温度、粘度、折射率、灵活性五个方面来提升研发实验室的整体工艺控制水平。
不过，最终选用哪种质量控制方法很大程度上取决于LC材料的预期用途。大多数制造商使用高效液相色谱(HPLC)和气相色谱(GC)进行质量控制和LC材料分析。但无论HPLC还是GC，在用于加速降解试验时都有各自的缺点。
■ 色谱柱是分离过程中非常关键的一个环节，但由于材料沸点和其它一些限制因素（例如液相在毛细管色谱柱中的稳定性），可用于此类分析的GC色谱柱类型非常有限。此外，针对LCD显示屏制造过程中的异构体分离，GC方法也存在缺陷。
■ HPLC的分离能力不如GC，而且可能会忽略某些微量组分。这意味着要确保杂质控制始终维持最高水平，仅仅凭借HPLC是不够的。
面对越来越复杂的显示屏制造工艺，应用最新分离技术和仪器分析方法将大大帮助制造商应对兼顾高效性和经济性的挑战。
沃特世UPLC高分辨质谱解决方案
将分离性能卓越的UPLC与高分辨率质谱联用，可以快速、准确地分析LC材料。UPLC技术可在短时间内分离多种主要LC材料及微量组分，结合四极杆串联飞行时间质谱（Tof-MS），可进行高灵敏度的全面检测。分析人员能够轻松、直观地确定加速降解试验前后发生细微变化的因子，同时获得有关这些因子组成的信息。根据子离子谱图，可以分析碎片组分（子离子）的结构、预测变化因子的结构，还可以利用MassFragment软件验证预测的结构。
◆ 基于UV辐照的加速降解试验 – 通过比较周期测试之间偏光器和UV阻隔膜中的副产物和添加剂消耗量来确定降解原因，以此测试产品的安全性和生命周期。
◆ 基于加热的加速降解试验 – 通过比较周期测试之间LC、偏光器和滤光片中的副产物、彩色光阻剂和添加剂来确定降解原因，以此测试产品的安全性和生命周期。
◆ 电阻相关试验 – 通过比较周期测试之间LC的副产物来确定降解原因，以延长产品生命周期。
碎片预测软件的作用
MS/MS谱图中预测的结构可通过MassFragment软件进行验证。如果碎片离子的结构归属结果与预测结构不一致，软件将重新审核并纠正官能团或其它结构基团的位置以及整体结构，然后由MassFragment重新进行验证。
结果来源：沃特世公司
如果在LCD生产过程中能明确鉴定杂质和降解组分，并在中试研究阶段建立控制杂质的方法，显示屏的不合格率将至少降低10%以上，并能进一步提升更大尺寸显示屏的合格率。
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