新品发布 | TESCAN FIB-SEM

TESCAN公司

2019.10.19

TESCAN（中国）

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2019年10月15日， TESCAN在合肥丰大国际大酒店隆重发布了新一代超高分辨率 FIB-SEM —— TESCAN AMBER， TESCAN 公司特别邀请了中国科学院院士、浙江大学学术委员会主任张泽院士出席并致辞，并与TESCAN(中国)总经理冯骏一起为 TESCAN AMBER 揭幕。

TESCAN (中国）冯骏总经理

在一片热烈的气氛中，TESCAN（中国）总经理冯骏首先以“聚焦TESCAN客户，创新服务内容，提升服务品质——TESCAN中国发展战略”为题讲述了近5年来TESCAN的一些主要举措和变化。2014年在广西南宁举办的全国电镜年会是一个很大的转折点，TESCAN意识到了中国用户对当前电镜行业内售后服务现状充满了深深的忧虑，必须深入思考客户的实际需求，从实际出发为客户进行更全面精准的服务。因此，TESCAN公司定制了“聚焦TESCAN客户，创新服务内容，提升服务品质的发展”的战略。通过围绕提升TESCAN中国用户的服务感受，重新调整和规划了维修工程师管理制度，进一步加强对用户的应用支持，增加中国区仓库的零备件储备，增加电话回访售后服务以及建立了FIB-SEM 和场发射电镜用户微信群等措施，增强TESCAN各部门与用户之间的互动，了解客户的需求，为客户提供全面个性化的服务。通过几年的努力，TESCAN的产品和服务受到了TESCAN用户和业内专家的一致好评！

TESCAN（中国）产品经理 Ondřej Nezhyba 在会上介绍了TESCAN的历史和现状，目前 TESCAN全球拥有17家分公司，现有的产品线已经包括 SEM、FIB-SEM 和 X-ray micro CT。

中国科学院院士、浙江大学学术委员会主任张泽院士

中国科学院院士、浙江大学张泽教授是本次新品发布会的特邀嘉宾，他饱含深情的为大家讲述了中国电镜事业发展和对行业发展的一些见解。张泽院士说到，中国早在1958年就开始了TEM的研究，但在此后的几十年内错失了多次发展的良机。TESCAN虽然起步较晚，但它并没有浪费机遇，逐渐发展成国际电镜界不可忽视的力量。

电镜事业的发展离不开合作，尤其是科研单位与电镜生产企业的合作，结合良好的国际环境，可以极大的促进这个事业的发展。同时，行业竞争也是促进行业发展的必要因素，没有竞争就没有发展的动力。学科间的交叉对于一项技术的发展也至关重要。张泽表示，在当前科学技术间高度融合和发展的前提下，机会是很多的。合作、竞争、交叉为今后的成功奠定了很好的机会。最后，张泽建议到，各科研院所可以利用自身优势，从电镜的部件入手，与国际电镜巨头合作，打造出自身特色产品。

TESCAN（中国）总经理冯骏与张泽院士共同为TESCAN AMBER揭幕

致辞结束后，TESCAN（中国）总经理冯骏与张泽院士共同为大家揭晓了今天发布的新一代产品 —— TESCAN AMBER。TESCAN AMBER 是 TESCAN公司于 2019年全新发布的一款超高分辨率的 FIB-SEM 系统，它配置的是无漏磁动态加速BrightBeam™ 型超高分辨SEM镜筒以及 Orage 型 FIB 镜筒，在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析系扩展能力方面达到了业内顶级水平，对于分析磁性样品、电子束敏感样品以及不导电材料等有较大优势。TESCAN AMBER 配置了2套镜筒内探测器系统，具有多种SE和BSE探测模式。和AMBER 同一系列的TESCAN AMBER X 的FIB-SEM使用了 Xe 等离子源,相较使用 Ga 离子的 FIB-SEM, 在同样工作条件下，Xe离子的作用速度为Ga离子的50~60倍；另一方面，Ga离子可以获得比Xe更小的束斑：Ga 离子分辨率约为2.5nm, Xe等离子约为15nm。Ga离子FIB是要求高精度刻蚀的首选方案，而Xe 等离子FIB对于需要高效率、大体积加工的样品，则具有更大的吸引力！