中国国际半导体展SEMICON China 2021于2021年3月17-19日在上海新国际博览中心圆满落幕，珀金埃尔默携解决方案和多款仪器惊艳亮相，欢迎
近期，针对半导体和电子产品中污染物的检测，珀金埃尔默推出了《半导体和电子产品解决方案》，方案中包含十多篇应用文献：
ICP-MS在超纯水分析中的应用
使用单颗粒ICP-MS在反应模式下分析SiO2纳米颗粒
利用ICP-MS对半导体级盐酸中的杂质进行分析
SP-ICP-MS测定半导体有机溶剂中的含铁纳米颗粒
使用ICP-MS测定半导体行业常用有机溶剂中的杂质
石墨炉原子吸收光谱法测定超纯酸和光刻胶去除溶液中的各类超痕量元素
按照伦敦金属交易所指南使用Avio ICP-OES分析铝锭中的杂质元素
痕量气体分析仪（型号4083）简介
紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙
使用StepScan DSC得到更好的热固性材料表征
在DSC 8000中通过UV照射固化光胶
DSC，DMA和TG-GCMS在环氧树脂材料研究中的应用
TMA 4000在电子工业领域中使用标准测试方法的应用
Spotlight 200i红外显微镜检测和鉴定制造工艺中的污染物
用ATD-GCMS对来自固定污染源的24种极性和非极性挥发性有机物（VOC）进行分析
保护环境，我们在所不辞
珀金埃尔默锂电池检测解决方案
通过DSC测定太阳能电池板用EVA的固化
使用LAMBDA 1050+紫外-可见-近红外分光光度计及其通用型反射附件（URA）测量增强型镜面反射（ESR）膜
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《半导体和电子产品
解决方案》
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