讲
座
简
介
优尼康科技有限公司自2012年成立，一直专注于薄膜厚度与表面轮廓测量领域，为半导体、面板、LED、消费电子、生物医疗等高科技企业和高校及研发中心提供精密测量设备与解决方案。
本次讲座，优尼康将邀请多位行业专家，结合各行业应用案例，与您探讨在微纳级别的薄膜厚度与表面轮廓形貌测量领域的相关仪器及应用。旨在帮助更多科研及工业用户了解在微纳测量领域，如何更好的把控工艺以及拓展材料测试方向。讲座信息
日 期
2021年5月27日（周四）
时 间
13:30-16:30
参与方式
线上平台直播
讲座安排
时间 | 题目 | 主讲人 |
13:30 | 优尼康介绍 | 主持人 |
13:40 | Filmetrics光学膜厚测量仪原理及应用 | 李扬 |
14:20 | KLA探针式台阶仪的原理及应用 | 梁博士 |
14:40 | Zeta多模组光学轮廓仪在薄膜厚度与表面形貌方面的应用 | 曾博士 |
15:00 | Horiba椭圆偏振光谱仪在膜层材料分析中的应用及原理 | 武博士 |
15:30 | 环境的稳定性对高分辨率测量的重要性 | 盘健冰 |
16:00 | 答疑和讨论 | 全员 |
报名方式
报名方式（以下两种方式二选一）：
点击下方“预约报名”；填报资料即可报名。
长按并识别下方二维码报名；
请长按并识别此二维码，填写报名信息
演讲人介绍
李 扬
优尼康科技有限公司 总经理
优尼康科技有限公司创始人之一，上海交通大学高级工商管理硕士，十多年光学膜厚测量行业经验，对各种类型的薄膜应用都有很深的理解，为众多知名客户提供薄膜测量解决方案。
盘健冰
优尼康科技有限公司 副总经理
曾佳宇
KLA 应用开发工程师
Zeta 光学轮廓仪应用开发工程师
2017年加入KLA，担任应用开发工程师
负责Zeta光学轮廓仪在工业和科研行业的客户支持和应用产品推广
负责Zeta光学轮廓仪在应用和功能方面的开发和支持
加入KLA之前，在Zeta Instrument 担任应用工程师
梁建辉 博士
KLA 应用开发工程师
武艳红 博士
Horiba Scientific 应用主管
KLA
KLA Corporation为世界著名的专业美资半导体(芯片)设备供货商，总部在美国硅谷，1976年成立以来不断致力于产品研究与发展，为全世界客户提供更完善服务，协助半导体厂商创造高品质、高效率的产品，分公司遍布美洲、欧洲、亚洲等国家。
HORIBA
HORIBA Scientific（HORIBA 科学仪器事业部）隶属于HORIBA 集团，是全球知名的分析与检测仪器制造商之一。我们一直致力于为用户提供先进的检测和分析仪器，以满足不同的应用需求，包括：元素分析、荧光、刑侦、射频辉光放电、电感耦合等离子发射光谱仪ICP、粒度表征、激光拉曼光谱、椭圆偏振光谱、油中硫分析、水质和XRF等分析仪器。
优尼康UNICORN
优尼康科技有限公司（UNICORN TECHNOLOGY CO., LTD.）成立于2012年，在香港、上海、东莞、天津、成都和苏州设有分支机构或办公室。从成立伊始优尼康一直专注于薄膜厚度与表面轮廓测量领域，为半导体、面板等高科技企业和高校及研发中心提供精密测量设备与解决方案。提供全面的一对一销售服务，技术支持，备件管理和咨询服务。
首页
