TESCAN30周年，绽放全国电子显微学学术年会

● 2021年10月14至18日，一年一度的电子显微学盛会——2021全国电子显微学学术年会——在广东东莞成功举办。中国的电子显微学有了长足的进展，其研究已走在了世界的最前沿。受益于中国电镜学会的精心组织和推动，本届年会以“显微学揭开新视野”为主题，来自高校研究所、企事业单位等千余名电镜领域专家学者们出席了本次大会，精彩呈现了400多场学术报告，涵盖了：原位电子显微学、扫描探针显微学、EBSD、生命科学显微成像技术研究等诸多领域。

2021年，也是TESCAN 30周岁的生日，30年来，TESCAN始终为“推进科技创新”而努力着。借助此次盛会，TESCAN正式启动了 “电镜启明星计划青年基金”项目，成立TESCAN学术委员会，打造“开放赋能，成就客户”的全新服务战略。

学术委员会致辞及获奖者发表感言

在此次启动仪式上，学术委员会还在客户中评选出了首届“电镜启明星”，并给项目获得者颁出了TESCAN“含金量满满”的支票。TESCAN希望以此支持社会科研工作的开展，帮助专家与老师获得进一步突破性的研究成果，为中华民族的科学富强之路而贡献自己的一份力量。

除此之外，TESCAN携革命性产品- 高分辨X显微CT升级系列- 在全国电镜会上召开了发布会。通过专业应用报告和比利时实验室的远程连线，揭开其神秘面纱；应用报告涉及材料科学、生命科学、地球科学和半导体领域等；可以非常自豪的说TESCAN的高分辨X射线CT是目前市场上唯一在实验室提供4D原位动态技术的CT产品。

作为欧洲电镜服务领导品牌，TESCAN应用部经理朱新利博士还受大会特邀，代表公司做了有关《氙离子FIB在材料加工中的最新进展》的报告；大会第二天和第三天，应用部2位应用工程师专家还在分会场为参会者介绍了《基于扫描电镜的原位实验在材料研究中的应用》和《TESCAN扫描电镜在材料表征中的最新应用进展》。

#1

报告题目：TESCAN Xe PFIB 在材料加工中的最新进展

主讲人：朱新利  应用部经理

朱经理首先介绍了TESCAN超过70年的电镜制造经验渊源与成立三十年发展历程。作为全球首家将等离子 FIB 集成到扫描电子显微镜（SEM）中的制造商，早在2011年就推出了FERA，并于2019年底推出了新一代的 AMBER X 和 SOLARIS X。其中  AMBER X 将可用于样品精细加工的氙等离子体 FIB 和无漏磁的超高分辨成像的 SEM完美地结合，应用于各类材料的显微结构表征，尤其是讲究效率的半导体领域。其后讲解了TESCAN Xe PFIB在材料加工中的最新进展。相比GaPFIB在材料加工中遇到的加工尺寸限制、镓注入污染、非晶化损伤等挑战，XePFIB具有优势包括实现特殊结构高质量大尺度截面制备（引入silicon mask作为保护层）、高效高质量大尺度截面加工（引入摇摆样品台）、避免镓离子注入对材料性能的影响、实现大体积三维重构。最后介绍了Tescan公司的基于电镜的All in one 综合解决方案。

#2

报告题目：基于扫描电镜的原位实验在材料研究中的应用

主讲人：余妍  应用工程师

电镜中引入原位实验，模拟材料服役时的环境条件，温度、压力、气氛等等，通过扫描电镜实时观测材料的微观组织变化，如果没有原位实验，我们就只能通过表征材料的初始状态和最终状态，再推演其微观结构的变化，这是非常不准确的。所以原位实验对于材料的改性研究或者失效分析都是大有帮助的。
为了更方便的实现原位实验，TESCAN能为用户提供更便利的条件：

• 超大样品仓

• 超大视野

• 长工作距离成像

• 监控并完整记录实验过程

• 快速查差功能

• 连续可变角度EDS法兰

#3

报告题目：TESCAN扫描电镜在材料表征中的最新应用进展

主讲人：李景  资深应用工程师

ECCI是扫描电镜中的一种十分重要的衬度类型，在金属、半导体等材料领域有着非常广泛的应用。而作为扫描电镜工作者，如能更好的通过电镜观察到ECCI以及其中位错等信息，将给科研工作者带来极大的便利。报告里总结了多种电镜条件，以及制样方法，使得ECCI的观察更加容易实现。并且我们还设计了一个非常独特的制样方法，通过EBSD的取向和信息导航，制备出客户想要的TEM薄片样品，确定含有客户所需要的信息，从而进一步提升FIB和TEM的效率。

为期3天的年会，TESCAN展位还安排了有趣的娃娃机主题游戏，不仅有机会与机械驱动装置来个亲密接触，还能和TESCAN BEAR、粉红豹一起留影纪念；

大家纷纷前来排队体验，争抢着抓TESCAN娃娃并合影，获得了全场最火展位的轰动效应。

2021年，作为TESCAN新启点，新征程，将继续在电子显微镜领域，成就客户，赋能于中国电镜事业发展。