VOL.1
TODAY''S HEADLINES
Phenom SEM
NEWS
2022
1
飞纳台式场发射扫描电镜
2
飞纳电镜大样品室卓越版
3
飞纳台式电镜能谱一体机
4
飞纳电镜高分辨率专业版
5
飞纳电镜高性价比标准版
6
飞纳电镜全自动解决方案
飞纳电镜最新选型来啦
飞纳 (Phenom) 源自 FEI，诞生于荷兰 “发明之城” 埃因霍温，以 “任何人都可用的电镜” 闻名于世，现已成为台式扫描电镜第一品牌。让您的扫描电镜测试变得简单高效是我们一直以来的目标。
2021 年，荷兰飞纳推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。
飞纳目前在中国拥有 1000 多名用户，包括：清华、北大等几百家高校；中科院等各类研究院所；海关、公安局等政府机构；以及新能源、生命科学、半导体等企业单位。研究领域涉及金属及合金，电池，地质，考古，高分子，静电纺丝，陶瓷，复合材料，生物医学，微生物等。
01
锂电池
02陶瓷
03
静电纺丝
04粉末
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飞纳电镜的操作和样品制备流程非常简单， 一步制样，快速成像，获取图像只需
装样 (非Phenom XL系列)
装样 (Phenom XL系列)
载样，抽真空 15 秒
载样，抽真空 30 秒
自动 / 手动聚焦；自动 / 手动亮度对比度调节
自动样品台；自动 / 手动灯丝对中调节
成像仅三步即可获得高质量图像
型号推荐
1
飞纳台式场发射扫描电镜
Phenom Pharos G2
第二代台式场发射电镜 Phenom Pharos G2 的分辨率提升至优于 1.8 nm，可以轻松获取样品的更多细节信息。无需切换即可使用实时能谱功能，在成像的同时，快速获取成分信息。
综合指数：★★★★★★
放大倍数：2,000,000 X
分辨率：优于 1.8 nm
灯丝材料：肖特基场发射灯丝
抽真空时间：小于 15 秒
探测器：背散射电子探测器，二次电子探测器（选配能谱探测器）
Phenom Nano G2
一切以图像为中心，用户界面全面升级，取消传统的能谱独立显示屏，将电镜、能谱、全景拼图等操作界面集成在 1 个 24 英寸显示屏上，为用户提供最佳的操作体验。
综合指数：★★★★★
放大倍数：1,000,000 X
分辨率：优于 2.5 nm
灯丝材料：肖特基场发射灯丝
抽真空时间：小于 15 秒
探测器：背散射电子探测器，二次电子探测器（选配能谱探测器）
2
飞纳电镜大样品室卓越版
Phenom XL G2
Phenom XL G2 升级为全面屏成像，平均成像时间仅为 40 秒，系统可对最大 100 x 100mm 的样品进行分析，8nm 的分辨率为分析提供更多的细节。
综合指数：★★★★
放大倍数：200,000 X
分辨率：优于 8 nm
灯丝材料：优于 1,500 小时 CeB6 灯丝
抽真空时间：小于 20 秒
样品室尺寸：100mm x 100mm
探测器：背散射电子探测器（选配二次电子探测器，选配能谱探测器）
3
飞纳台式电镜能谱一体机
Phenom ProX
第六代 Phenom ProX 台式扫描电镜引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升级，易于操作，元素分析更快速。
综合指数：★★★★
放大倍数：350,000 X
分辨率：优于 6 nm
灯丝材料：优于1,500 小时 CeB6 灯丝
抽真空时间：小于 15 秒
探测器：背散射电子探测器（选配二次电子），能谱探测器
4
飞纳电镜高分辨率专业版
Phenom Pro
第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜是一款功能强大，轻松易用的多功能设备。长寿命、高亮度 CeB6 灯丝扩展了研究设备的功能，结合丰富的样品杯选件和拓展的全自动软件，Phenom Pro 可以适用于广泛的研究领域。
综合指数：★★★
放大倍数：350,000 X
分辨率：优于 6 nm
灯丝材料：优于1,500 小时 CeB6 灯丝
抽真空时间：小于 15 秒
探测器：背散射电子探测器（选配二次电子）
5
飞纳电镜高性价比标准版
Phenom Pure
标准版 Phenom Pure 装配的基本组件可以满足高分辨率成像的要求，这些基本组件不仅可以保证电镜高质量的成像，而且能够实现快速装载样品，最短时间内成像。
综合指数：★★★
放大倍数：175,000 X
分辨率：优于 10 nm
灯丝材料：优于 1,500 小时 CeB6 灯丝
抽真空时间：小于 15 秒
探测器：背散射电子探测器（选配二次电子）
6
飞纳电镜全自动解决方案
1
ParticleX 全自动清洁度检测系统
主要用于杂质或颗粒物的综合评估，可以自动获取大量颗粒的微观形貌和成分信息，具体包括:
颗粒粒度分布
颗粒形貌分析
杂质成分检测
高分辨率成像
ParticleX 以扫描电镜和能谱仪为基础，结合自动控制系统以及强大的数据库系统，可以全自动对杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
2
Phenom GSR 枪击残留物分析
在枪支犯罪事件中，枪击残留物（GSR）的分析发挥着重要的作用。GSR 分析技术首先基于扫描电子显微镜（SEM）的背散射成像，用来扫描样品和发现 “可疑” 的 GSR 颗粒。一旦发现可疑的颗粒，使用能谱（EDS）识别该颗粒的元素。最常见的搜索元素为 Pb，Sb 和 Ba。无铅底火的检测，例如 Ti 和 Zn 也可作为搜索条件进行搜索。
3
DiatomAITM 全自动法医硅藻 AI 检验系统
DiatomAITM 利用人工智能的技术，配合 DiatomScopeTM 实现了硅藻在电子显微镜下的自动扫描和自动识别。它是目前市面上最可靠、最高效、自动化程度最高的硅藻检测解决方案，帮助检测人员在分析过程中实现硅藻的全自动检测，识别过程全程无需人工参与。
与落地式扫描电镜相比，台式扫描电镜的价格相对具有优势。飞纳台式扫描电镜设计紧凑，不占空间，无需额外安装防震台和磁屏蔽，对安装环境没有特殊要求，让您省心放心。
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