BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪

 粒径测试

• 原理：动态光散射技术

• 粒径范围：0.3 nm – 15 μm

• 样品量：3 μL - 1 mL

• 检测角度：90°+12°

• 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试

• 原理：相位分析光散射技术

• 检测角度：12°

• Zeta范围：无实际限制

• 电泳迁移率范围：> ±20 μ.cm/V.s

• 电导率范围：0 - 260 mS/cm

• Zeta测试粒径范围：2 nm – 110 μm

分子量测试

• 分子量范围：342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流变测试

• 频率范围：0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s

• 测试能力：均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

粘度和折光率测试

• 粘度范围：0.01 cp – 100 cp*

• 折光率范围：1.3-1.6

趋势测试

• 模式：时间和温度

系统参数

• 温控范围：-15° C - 110° C

• 冷凝控制：干燥空气或者氮气
  

• 标准激光光源：50 mW 高性能固体激光器， 671 nm

• 相关器：最快25 ns采样，最多 4000 通道，10¹¹ 动态线性范围

• 检测器：APD （高性能雪崩光电二极管）

• 光强控制：0.0001% - 100%，手动或自动

软件

• 中文和英文

• 符合21CFR Part 11

*取决于样品和选件

  原理图

Optical system