规格型号：D8 ADVANCE

生产厂家：BRUKER布鲁克

测试内容

1. D8 Advance X射线衍射谱中的衍射峰与晶体中的不同晶面为一一对应关系，可以标定出各个衍射峰对应的晶面指数。根据衍射峰的位置、衍射峰的强度和形状，通过索引已建立的XRD标准卡片库，可检索出样品中存在何种物相。;

2. 物相定性分析;结晶度及非晶相含量分析;结构精修及解析;物相定量分析;点阵参数精确测量;无标样定量分析;微观应变分析;晶粒尺寸分析;原位分析;残余应力;低角度介孔材料测量;织构及ODF分析;薄膜掠入射;薄膜反射率测量;小角散射

可检测范围

1.常用于无机物。

2.有机晶体单晶不合适。

3.角度5-80度，快扫，慢扫。

4.物相是定量分析，相对定量。

X射线衍射仪技术(XRD)可为客户解决的问题

(1)当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。

(2)很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。

(3)新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。

(4)产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。

(5)纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。