JEDEC JESD12-5-1988
可测试性指南设计

Design for Testability Guidelines


 

 

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标准号
JEDEC JESD12-5-1988
发布
1988年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
(摘自 JEDEC 理事会投票 JCB-87-46,在 JC44 半定制集成电路委员会的认可下制定。)专用集成电路 (ASIC) 用户最常表达的担忧是可测试性。许多供应商已采取措施尽量减少客户的担忧,但迄今为止,每家公司都制定了自己的政策,而客户却没有看到什么可以缓解他们的困惑。本文档由许多 IC 制造商和一些 IC 用户的意见组成。它的目的是汇集一种连贯的...

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