K46 电力半导体器件、部件 标准查询与下载

NF C53-700-1/A2:2009 高压直流(HVDC)电力传输用晶体闸流管阀门.第1部分:电气测试

Thyristor valves for high-voltage direct current (HVDC) power transmission - Part 1 : electrical testing.

KS C 7114-2008 等离子显示板(PDP).视频认知分辨率的测量方法

이 표준은 플라즈마 디스플레이 패널 모듈(이하 “PDP 모듈”)의 모션 블러(motion

Plasma display panels(PDP)-Measuring method of moving picture resolution

KS C 7115-2008 有机发光二极管(OLED)显示器.器具耐久性试验方法

이 표준은 셀이나 모듈 혹은 이들이 운송용 포장된 형태의 유기발광다이오드(OLED) 디스플

Organic light emitting diode(OLED) displays－Mechanical endurance test methods

KS C 7116-2008 有机发光二极管(OLED)显示器.余像测量方法

이 표준은 유기발광다이오드 디스플레이 모듈(이하 “OLED 디스플레이 모듈”이라 한다.)의

Organic light emitting diode(OLED) displays－Measuring method of image sticking

KS C 6521-2008 半导体/LCD工艺涂层评估方法

이 표준은 반도체/LCD 공정 중 식각 또는 화학기상증착(CVD) 공정 장비 내부의 코팅

Method of evaluation for coating components of semiconductor and LCD process

KS C 7113-2008 等离子显示板(PDP).铁珠跌落试验

이 표준은 플라즈마 디스플레이 모듈(PDP)의 전면 패널 강도 측정을 위한 쇠구슬 낙하 시

Plasma Display panel(PDP)-Steel ball dropping test

KS C 7109-2007 等离子显示板.PDP模块的噪声测量方法

이 규격은 플라즈마 디스플레이 모듈(이하 “PDP 모듈”)의 소음을 측정하는 일반적인 방법

Plasma display panels－Measuring method of acoustic noise on PDP module

KS C 7110-2007 液晶显示装置.液晶显示器背光源的测量方法

이 규격은 액정 디스플레이용 백라이트 유닛의 일반적인 요구사항을 규정한다. 이 규격은 품질

Liquid crystal display devices－Measurement methods of backlight unit for liquid crystal displays

KS C 7107-2007 等离子显示板.加速寿命试验(ALT)

이 규격은 플라즈마 디스플레이 패널 모듈(이하 “PDP 모듈”)의 장시간 사용 환경에서 기

Plasma display panels - Accelerated life tests

KS C 7111-2007 音频、视频和相关设备的功率消耗的测量方法

이 규격은 소비자 사용에 대한 텔레비전 수상기, VCR, 셋 탑 박스, 오디오 장치, 다기

Measurement methods on power consumption for audio, video and multimedia systems and equipment

KS C 7112-2007 有机发光二极管(OLED)显示.环境可靠性试验方法

이 규격은 유기발광다이오드 모듈의 환경 신뢰성에 대한 세부 사항을 제공한다.

Organic light emitting diode(OLED) displays－Environmental reliability test methods

KS C 7108-2007 等离子显示板.PDP模块、视觉质量的测量方法

이 규격은 플라즈마 디스플레이 패널 모듈(이하 “PDP 모듈”)의 육안 품질을 측정, 평가

Plasma display panels - Visual quality inspection method of PDP module

KS C 7106-2007 FED术语和定义

이 규격은 전계방출디스플레이(Field Emission Display, FED)에 관한 주

Terms and definitions of FED

KS C 7105-2007 等离子体显示面板PDP模块表面的玻璃基板测量方法

이 규격은 플라즈마 디스플레이 모듈(이하 “모듈”)의 유리기판 표면온도를 측정하는 일반적인

Plasma display panels - Measuring method of glass surface temperature on PDP module

KS C IEC 60747-6:2006 半导体器件.第6部分:晶闸管

이 규격은 반도체 소자 중 다음과 같은 사이리스터에 대한 표준을 규정한다.-역방향저지

Semiconductor Devices－Discrete devices－Part 6：Thyristors

KS C IEC 60747-3-2:2006 半导体器件.分立器件.第3部分:信号二极管(包括开关二极管)和调节二极管.第2节:稳压二极管和基准电压二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)的空白详细规范

이 규격은 정전압 다이오드 및 전압 기준 다이오드의 개별 규격 지침에 대하여 규정한다.

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 3：Signal (including switching) and regulator diodes－Section Two：Blank detail specification for voltage-regulator diodes and voltage-reference diodes, excluding temperature-compensated precision reference diodes

KS C IEC 60747-4:2006 半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管

이 규격은 다음과 같은 반도체 개별 소자에 관한 표준을 규정한다.-가변 커패시턴스 다이

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 4：Microwave diodes and transistors

KS C IEC 60747-6-1:2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶闸管.第1节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻断三极闸流晶体管的空白详细规范

이 규격은 100 A 이하의 주위 및 케이스 정격 역방향 저지 3극 사이리스터의 개별 규격

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 6：Thyristors－Section one：Blank detail specification for reverse blocking triode thyristors, ambient or case-rated, up to 100 A

KS C IEC 60747-2-2:2006 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以上具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范

이 규격은 100 A 초과의 주위 및 케이스 정격 정류 다이오드(애벌란시 정류 다이오드 포

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 2:Rectifier diodes-Section Two : Blank detail specification for rectifier diodes (including avalanche rectifier diodes), ambient and case-rated, for currents greater than 100 A

KS C IEC 60747-7-3:2006 半导体器件.分立器件.第7部分:双极晶体管.第3节:开关设备用双极晶体管的空白详细规范

이 규격은 스위칭용 바이폴러 트랜지스터 개별 규격 지침에 대하여 규정한다.

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 7：Bipolar transistors－Section three：Blank detail specification for bipolar transistors for switching applications