L50 光电子器件综合 标准查询与下载



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Semiconductor lighting terminology

ICS
31.260
CCS
L50
发布
2018-12-28
实施
2018-12-28 00:00:00.0

本部分规定了光纤和光无源器件在使用期间受到机械应力使衰减产生的快速变化的测量方法。 瞬间损耗测量用于表明短暂机械扰动对光纤的影响。这些扰动可认为是被试器件(DUT)受到诸如:跌落、振动、撞击或者是针对光纤的操作而引起的。因而此测量通常在器件处于机械试验时进行。 本方法不是设计用于测量非常短暂的可能影响传输系统特性的瞬间损耗(持续时间小于l ms)。本方法适用于器件按性能规范的规定进行试验时,对所产生的机械应力导致的瞬间损耗的检测,此时的瞬间损耗持续时间通常长达数十毫秒。 注:相关试验和测量程序的总则和导则见GB/T l8309.1--2001。

Fibre optic interconnecting devices and passive components.Basic test and measurement procedures.Part 3-28:Examinations and measurements.Transient loss

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2007-06-29
实施
2007-11-01

本部分规定了在运行、存贮和/或运输过程中可能出现的湿度和温度下,检测纤维光学器件或接头盒耐变化的适用性的程序。该试验的目的是检验器件在经历湿热环境并短暂冷却后的性能。 总的来说,该试验提供了一个高温以诱发由于软化和膨胀而导致的潜在缺陷,一个高湿以助长潮气吸收及膨胀,和一个低温以加速冰形成、脆化及压缩。 该试验可以选择组合的严酷等级,这不同于其他的环境循环试验,特别是IEC 61300-2-46规定的湿热循环试验和GB/T l8310.21-2002/IEC 61300-2-21:1995规定的温度一湿度组合循环试验。该试验要求: a)尽量多的循环次数; b)尽量宽的温度循环范围; c)尽量短的循环周期。

Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 2-48: Tests- Temperature-humidity cycling

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2007-06-29
实施
2007-11-01

本部分包含了纤维光学连接器接口的一般信息,包括规范性引用文件、定义以及设计和解读标准图纸的规则。

Fibre optic connector interfaces- Part 1: General and guidance

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2007-06-29
实施
2007-11-01

本部分规定了评定导销式多芯套管和连接器中端面几何结构的程序。基本特性为:相对于端面的光纤位置(无论凹进或凸出)、相对于导销孔的端面角度以及多模光纤的纤芯下陷。

Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 3-30: Examinations and measurements Polish angle and fibre position on single ferrule multifibre connectors

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2007-06-29
实施
2007-11-01

本部分规定了测量耦合功率比(CPR)系数的方法。按GB/T l8311.4-2003测量多模光纤衰减和插入损耗时,CPR用于表征光源特性和使注入条件标准化。 可以在850 nm和1300 nm波长下测量CPR系数。

Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 3-31 : Examinations and measurements Coupled power ratio measurement for fibre optic sources

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2007-06-29
实施
2007-11-01

本部分规定了测量装有单模光纤的连接器的圆柱体插针中光纤与插针轴线间的角偏差的程序。 ·概述 本部分规定了单模光纤连接器的圆柱体插针中光纤与插针轴线间的角偏差的测量方法。角偏差定义为插针轴线与安装的光纤轴线(见图l)之间的夹角δ。 角偏差的测量是通过绕轴线旋转插针,并测量插针在远场方位图中光斑中心的偏移量来完成。 在一个光纤连接器中,其角偏差的特征值一般在十分之几度的范围内。离插针表面5 mlTl处的光斑(白光源)直径大约为1 mm。当旋转连接器时,光斑的偏移值大约为光斑直径的1/100(离光纤表面5 mm处角偏差0.O对应的光斑偏移值为45μm)。为了能在高精度水平上测量如此小的一个偏移值,就需要使用自动控制装置。 此外,由光纤引起的光斑偏移还受到与插针轴线相关的光纤表面倾斜度的影响。这里的偏转值符合斯奈尔定律。倾斜的影响程度可以通过曲率半径以及反射点偏心率来计算。有关这个问题的注解和解释见。附录A。

Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 3-26: Examinations and measurements Measurement of the angular misalignment between fibre and ferrule axes

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2007-06-29
实施
2007-11-01

本部分的目的是按总规范和相关规范提供特定信息和详细要求,对纤维光学器件外观和机械检查提供判据。检查方法可用于鉴定检验或质量一致性检验中试验程序的任何阶段,可作为单独的检验项目,或作为环境(初始)试验前和试验后的检查。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-1:Examinations and measurements-Visual examination

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分的目的是揭示纤维光学器件在受到重复性的冲击时其机械性能的薄弱环节和/或性能劣化。它模拟在正常工作期间器件可能遭受到的重复性的冲击。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-8:Tests-Bump

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分的目的是确定纤维光学器件在受到非重复性机械冲击时其结构的薄弱环节和/或性能劣化程度。它模拟在正常工作期间或运输过程中器件可能偶然遭受到的非重复性冲击。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-9:Tests-Shock

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分目的是评定纤维光学器件受到脚踩、车辆轮胎辗压等负荷的影响。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-10:Tests-Crush resistance

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分旨在确定纤维光学器件承受实际使用,贮存和(或)运输中可能遇到的持续低温环境条件下的适应性。本部分不适用于评定上述器件在温度变化期间工作的能力,此时应采用GB/T 18310.22-2003。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-17:Tests-Cold

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分的目的是确保纤维光学器件与光缆的连接或固定能够经受住正常工作期间可能遭受的挤压负荷。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-11:Tests-Axial compression

ICS
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分的目的是为了确定由一段光缆所施加的端部负荷对连接器插头的影响,此插头与固定在面板上的转接器配接。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-42:Tests-Static side load for connectors

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分目的是评定纤维光学器件在非线性光效应未导致其永久性损伤或暂时性的性能下降的情况下,能够达到的光功率传输水平。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-14:Tests-Maximum input power

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分目的是确定纤维光学器件承受温度循环或连续多次温度冲击应力的适应性。本部分规定两种试验方法。 试验Na是使样品在很短的转换时间内暴露于极限温度下,其本质是使样品经受一系列热冲击。 试验Nb是使样品在规定温度变化速率内暴露于比较缓慢温度变化下,但样品承受非热冲击性热应力。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-22:Tests-Change of temperature

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分规定了带保偏光纤尾纤的连接器的消光比的测量程序。在试验中限定测量过程在一个最常见的情况下进行,即保偏光纤中传播的是近似线偏振光。此处术语“消光比”是指光纤中两个正交偏振轴中传播的光之比,并可更恰当地定义为“偏振串扰”。“消光比”是通用的术语。 本程序设计用于制造过程中的专用装置,因此比较详细地说明试验装置的构成。必须指出,在有合适装备的光学实验室可以采用其他能直接测试的试验装置,这种情况下可能会需要附加试验程序。应注意本试验程序不是为长期连续试验而设计的,尤其在单模光纤中可能会出现偏振对准偏移。因此,对器件的长期试验来说,重复测试比连续测试更重要。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-40:Examinations and measurements-Extinction ratio of a polarization maintaining(pm)fibre pigtailed connector

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分旨在规定测量随机配接的光连接器的衰减的统计分布和平均值所要求的程序,本部分术语“衰减”也可称为“插入损耗”。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-34:Examinations and measurements-Attenuation of random mated connectors

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-4:Examinations and measurements-Attenuation

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01

本部分的目的是确定在工作寿命期间,当纤维光学器件经受可能的浸水时,其耐受性能下降的能力。

Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-45:Tests-Durability test by water immersion

ICS
33.180.20
CCS
L50
发布
2003-11-24
实施
2004-08-01



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