北京艾飞拓科技有限公司作为德国 IONTOF 公司的中国总代理，成立于2012年。主要负责飞行时间二次离子质谱仪（ToF-SIMS，新一代型号ToFSIMS M6）、低能离子散射能谱仪（LEIS，型号Qtac100）和高分辨磁力显微镜（hr-MFM，型号VLS-80）这三类产品，在中国大陆及港澳地区的销售、售后、宣传、培训、技术服务等工作。 

公司成员来自北京大学、中科院物理所等一流院校研究生，“以物理学、材料学、国际贸易等专业背景打造核心团队，秉承引进国际质谱领域先进技术的理念，以提高我国材料分析技术为核心目标，密切与国内多所高校、研究机构、科技公司合作，共同攻克技术难题。”

IONTOF是由Alfred Benninghoven教授，Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年创立，创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人，他们团队始终带领国际二次离子术的发展，从上世纪80年代初开始，Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势，TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。

TOF.SIMS 5从2003年定型到现在已经成为市场上相当成功的飞行时间二次离子质谱系统。到2016年，世界上已经有超过350套高性能的TOF.SIMS系统成功地应用在世界各地的公司和学术研究机构中。

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