奥谱天成ATH1580_短波...

奥谱天成ATH1580_短波红外高光谱成像仪(SWIR)参数指标

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特征:

波段范围:1000~1700nm

最大空间波段数:640

最大光谱波段数:512

高光谱分辨率:10 nm

最大视场角:31.7°(取决于镜头)

超群的成像性能

数据格式兼容ENVI;

体积紧凑:122mm x 58mm x 65mm;

重量轻:380g;

无机械扫描,可靠性高;


1. 性能参数表

序号

指标

参数

1

光谱范围

1000-1700nm

2

光谱分辨率

优于10 nm

5

探测器

制冷型InGaAs短波红外探测器

6

探测器接口

USB3.0

7

探测器供电

12V±10%,6-10W

8

探测器靶面尺寸

9.6 X 7.68 mm

9

探测器原始分辨率

640 X 512

10

探测器原始像元尺寸

15 µm x 15 µm

11

像素位深

14 bits

14

空间通道数

640通道

15

波段数

512通道

16

视场角(FOV)

15.2°@f=35mm,取决于镜头

17

瞬时视场角(IFOV)

0.7mrad@f=35mm,取决于镜头

18

最大帧频

240 fps

19

尺寸

122mm x58mm x 65mm

20

重量

小于380g

21

工作温度

-20 - 50°C

22

存储温度

-30-70°C

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