KORE SURFACESEER S: ...

KORE SURFACESEER S: TOF-SIMS二次离子质谱参数指标

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高表面灵敏度1x109 atoms/cm2 (ppm)
质量分辨率>2,500 m/δm (FWHM)
质量范围>1000 amu

质量范围达10,000 amu，带有高质量检测器（可选）
质量准确度± 5 milli amu
分析区域100µm to 1000µm
SIMS正极和负极模式
低能电子枪，用于绝缘体的电荷补偿
表面的元素和分子信息
同位素分析
进行和绝缘样品分析
溅射清洗能力
1分钟分析
从大气中抽出5分钟的样品
提供SIMS数据库
可选的光学显微镜/照相机/监视器



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