梅特勒-托利多 统计质...

梅特勒-托利多 统计质量控制(SQC)解决方案参数指标

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ž技术参数:
ž单机(紧凑)系统,软件选件;
ž适用于所有型号的XP天平:
可读性zei小 1µg
称量范围zei大可达 64kg
ž管理多达100个样品
ž多种公差系统
EU欧盟标准 (e.g. 食品行业, 化妆品行业)
欧洲药典 (制药行业)
3 个自由公差系统
ž可直接通过XP天平彩色触摸屏进行各项参数设置
ž第二公差系统
产品符合2个国家的不同法规
多种功能支持
+/- 称量
单个皮重
平均皮重
违规检查
提醒及警告信息

应用领域:
梅特勒-托利多统计质量控制(SQC)解决方案在制药行业压片片重控制、食品行业灌装净重控制等方面有着广泛的应用。

主要型号:
超越系列XP天平,配合SQC-XP软件。



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