电子显微镜分析仪器

SEM QUANTAX EDS

XFlash® 7 - 最新 EDS 探头系列

优化的设计            更好的分析

快速、精准、可靠

亮点

1,000,000 cps：有效输出计数可达 1,000,000 cps，无与伦比的分析速度

> 2,200 条元素谱线：包含所有 K，L，M 和 N 线系的全系原子数据库，可以对复杂的数据进行定量分析

> 1.1 sr：更大的采集立体角，优化的几何结构，更快的采集速度，更高的测试效率

能量分辨率：<129 eV

峰背比：20000:1

最大计数率：1500 kcps

元素检测范围：Be-Cf

探测器面积：10-300 mm²

窗口类型：超薄聚合物窗/无窗可选